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SICK圆柱形传感器,MHT1-P022S11[产品打印页面]

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产品名称: SICK圆柱形传感器,MHT1-P022S11
产品型号: MHT1-P022S11
产品展商: SICK
简单介绍
SICK圆柱形传感器,MHT1-P022S11 Tension à l’état bas (L41E) 5 Reference voltage 50 V DC. Safety extra-low voltage SELV/PELV M1 avec optique axial 0 m 10

SICK圆柱形传感器,MHT1-P022S11的详细介绍

SICK圆柱形传感器,MHT1-P022S11

Catégorie 4 (EN ISO 13849)10)
Performance Level11) PL e (EN ISO 13849)10)
PFHD: probabilité moyenne de pannes
dangereuses par heure 8,1 x 10-10
TM (longévité) 20 ans
VDE classe de protection élec.12)13) III
Indice de protection IP 67
Température ambiante
Fonctionnement –40 °C … +55 °C
Temps de réponse Temps de rép. + pé
riode de test de l’équipment de test
Entrée test de l’émetteur TE
Couper l’émission TE < 5 V à « en l’air »
Émettre TE > 15 V
Signal de sortie (récepteur seulement)
LOW: Faisceau lumin. interrompu; HIGH: Faisceau lumin. libre
Grandeurs caractéristiques de sécurité
Tension d’alimentation UV sur l’
appareil3)4)5) 19,2 V 24 V 28,8 V
Ondulation résiduelle6) ≤ 5 VSS
Puissance consommée émetteur
/récepteur7) ≤ 20 mA/≤ 30 mA
Sortie TOR8) PNP, Q
Tension à l’état haut (L41E
) UV –2,5 V UV –3,2 V
Tension à l’état bas (L41E) 5
Reference voltage 50 V DC.
Safety extra-low voltage SELV/PELV
M1 avec optique axial 0 m 10
Longueur d’onde 660 nm
Angle de rayonnement/Angle de réception ±2,5°
Diamètre des faisceaux
Courant de sortie IA (L41E) 50 mA 70 mA
Temps de réponse9)
Temps de coupure
(occultation accidentelle ou test)
Temps d’enclenchement
(cessation de l’occultation ou du test)

 

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