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EE-SX770,Omron高精度位移传感器技术样本[产品打印页面]

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产品名称: EE-SX770,Omron高精度位移传感器技术样本
产品型号: EE-SX770
产品展商: OMRON
简单介绍
EE-SX770,Omron高精度位移传感器技术样本 测量中心距离 7mm 20mm 30mm 40mm 测量范围 ±0.3mm ±1mm ±3mm ±6mm 静态分辨率 1 0.01μm 0.02μm 0.06μm 0.08μm 线性度 2 ±0.8μm ±1.2μm ±4.5μm ±7.0μm EE-SX770,Omron高精度位移传感器技术样本

EE-SX770,Omron高精度位移传感器技术样本的详细介绍

EE-SX770,Omron高精度位移传感器技术样本

 

光点直径 3 Near φ20μm φ45μm φ70μm φ90μm
Center φ18μm φ40μm φ60μm φ80μm
Far φ20μm φ45μm φ70μm φ90μm
测量周期 500μs~10ms
适用传感器控制器 ZW-C1□□□ /-CE1□□
使用环境照度 物体面照度10,000Lx以下:白炽灯
周围温度范围 工作时:0~+50℃、存放时:-15~+60℃ (但是,不得结冰、结露)
周围湿度范围 工作时/存放时:35~85%RH (但是,不得结露)
保护结构 IP40(IEC60529)
振动(耐久) 10~150Hz(单向振幅0.35mm) X/Y/Z各方向80分钟
冲击(耐久) 150m/s2 6方向 各3次(上下、左右、前后)
温度特性 4 0.6μm/℃ 1.5μm/℃ 2.8μm/℃ 4.8μm/℃
材质 壳体:压铸铝、光纤被服层:PVC、校准内存:电脑
光纤长度 0.3m、2m (耐弯曲电缆)
光纤小弯曲半径 20mm

EE-SX770,Omron高精度位移传感器技术样本

绝缘电阻(校准ROM) 外壳与整体端子之间:20MΩ(使用250V兆欧表测量时)
耐电压(校准ROM) 外壳与整个端子之间:AC1,000V、50/60Hz、持续1分钟
重量 约105g (壳体、光缆合计)
附件 校准内存固定用螺丝(M2)、使用说明书、使用注意事项
.1. 将本公司的标准镜面对象物置于测量中心距离,
以平均次数4,096次测量的实测值
当与符合出口管理贸易令的控制器(ZW-CE1□T)连接时,
无论传感器探头、平均次数如何,小分辨率都是0.25μm。
2. 相对测量本公司标准镜面对象物时的理想直线的误差

 EE-SX770,Omron高精度位移传感器技术样本

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