YAMATAKE边缘检测传感器,销售山武检测传感器[产品打印页面]

YAMATAKE边缘检测传感器,销售山武检测传感器
即使受光光量衰减，只要线性图像传感器的入光量不变，
边缘位置的输出值就不会变化。
可忽略薄膜不规则部分的干扰消除功能2
玻璃基板对准时倾斜度θ计算功能3
通过位置变化检测功能可检测出玻璃基板上的缺口和裂痕3
因遮光引起受光量的减少，使PD的线性输出发生变化。
这种传统的PD方式，由于受光面污垢（或检测物透明度）
造成受光光量衰减，使输出值发生变化。
所以，为了防止污垢，需要进行空气吹扫。

YAMATAKE边缘检测传感器,销售山武检测传感器
PBZ激光传感器采用平行激光束和一个
CMOS线性图像传感器专长检测薄膜、晶圆或玻璃基板的边缘位置。
针对检测面污垢会影响检测精度的课题，
光射在刀片或薄膜等薄型物体边缘处会发生衍射。
受光部衍射光的强度分布取决于受光器与薄型物体之间的距离(WD)。
不受检测面污垢引起的受光光量衰减的影响
受光单元采用线性图像传感方式，
不受检测面污垢的影响，实现高精度的检测。并且，
配置了“光强度衰减报警功能”，到了维修时期便会发出警报。
根据各像素的亮度信息，测出遮光宽度。

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